On the importance of measuring accurately LDOS maps using scanning tunneling spectroscopy in materials presenting atom-dependent charge order: the case of the correlated Pb/Si(111) single atomic layer
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11 pages, 3 figures
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- Titre Crossref
- Importance of accurately measuring LDOS maps using scanning tunneling spectroscopy in materials presenting atom-dependent charge order: The case of the correlated Pb/Si(111) single atomic layer
- Date Crossref
- 17/01/2023
- Éditeur
- American Physical Society (APS)
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Laboratoire de Physique et d’Étude des Matériaux pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Sorbonne Université pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Institut des NanoSciences de Paris pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Laboratoire de Chimie et Physique Quantiques pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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INSP-E2 - Spectroscopie des nouveaux états quantiques (France) pays non établi dans la noticeInstitution
Laboratoire de Physique et d’Étude des Matériaux, Sorbonne Université et Institut des NanoSciences de Paris, avec 2 autres affiliations.
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