Structural Analysis of a Ferroelectric Material Using Atomic-Resolution Electron Microscopy with Elemental Mapping
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DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Structural Analysis of a Ferroelectric Material Using Atomic-Resolution Electron Microscopy with Elemental Mapping
- Date Crossref
- 31/08/2022
- Éditeur
- The Crystallographic Society of Japan
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Osaka Metropolitan University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Toray (United States) pays non établi dans la noticeEntreprise
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Toray Research Center pays non établi dans la noticeEntreprise
Osaka Metropolitan University, Toray (United States) et Toray Research Center.
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Les sujets associés
Ferroelectric and Piezoelectric MaterialsElectronic and Structural Properties of OxidesX-ray Diffraction in Crystallography