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Accès ouvert déclaré 2022 article

Novel approach to push the limit of temporal resolution in ultrafast electron diffraction accelerators

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1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : de. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Ultrafast electron diffraction techniques that employ relativistic electrons as a probe have been in the spotlight as a key technology for visualizing structural dynamics which take place on a time scale of a few femtoseconds to hundreds femtoseconds. These applications highly demand not only extreme beam quality in 6-D phase space such as a few nanometer transverse emittances and femtosecond duration but also equivalent beam stability. Although these utmost requirements have been demonstrated by a compact setup with a high-gradient electron gun with state-of-the-art laser technologies, this approach is fundamentally restricted by its nature for compressing the electrons in a short distance by a ballistic bunching method. Here, we propose a new methodology that pushes the limit of timing jitter beyond the state-of-the-art by utilizing consecutive RF cavities. This layout already exists in reality for energy recovery linear accelerator demonstrators. Furthermore, the demonstrators are able to provide MHz repetition rates, which are out of reach for most conventional high-gradient electron guns.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Novel approach to push the limit of temporal resolution in ultrafast electron diffraction accelerators
Date Crossref
03/08/2022
Éditeur
Springer Science and Business Media LLC
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced Electron Microscopy Techniques and ApplicationsParticle Accelerators and Free-Electron LasersAdvanced X-ray Imaging Techniques

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