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2022 article

Low temperature silicon nitride grown by very high frequency (VHF, 162MHz) plasma enhanced atomic layer deposition with floating multi-tile electrode

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Rattachement africain : kr, ie. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Low temperature silicon nitride grown by very high frequency (VHF, 162MHz) plasma enhanced atomic layer deposition with floating multi-tile electrode
Date Crossref
01/10/2022
Éditeur
Elsevier BV
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

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