Aller au contenu principal
2022 conference-paper

Design of Microwave Calibration Standards for Characterising S-Parameters of Quantum Integrated Circuits at Millikelvin Temperatures

2Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : gb. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

In the field of quantum information science, superconducting quantum integrated circuits are operated at millikelvin temperatures inside dilution refrigerators. The microwave performance of such non-connectorised devices can be characterised by measuring their calibrated S-parameters. The design of high-quality microwave standards is essential to achieve accurate calibration. In this work we describe the architecture of a full 2-port S-parameter measurement set-up for use at millikelvin temperatures along with the microwave calibration unit. The design of the standards for use in the calibration unit at millikelvin temperatures is described and verified using electromagnetic simulation and measurements. The suitability of the standards is verified by characterising a commercial attenuator as a test device.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Design of Microwave Calibration Standards for Characterising S-Parameters of Quantum Integrated Circuits at Millikelvin Temperatures
Date Crossref
04/04/2022
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • National Physical Laboratory pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

National Physical Laboratory.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Microwave and Dielectric Measurement TechniquesRadio Frequency Integrated Circuit DesignSuperconducting and THz Device Technology

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.