Noise determination in silicon micro strips
Rattachement africain : us, jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
We report the study of amplifier noise on silicon micro strip detectors, We have used a fast, low noise amplifier-comparator VLSI chip with 22 ns shaping time developed for the LHC to determine the noise at the preamp as a function of strip length and strip geometry, i.e., interstrip capacitance and ohmic strip resistance. In addition, we have tested the noise in irradiated detectors. We have compared the results with simulations using SPICE.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Noise determination in silicon micro strips
- Date Crossref
- 19/11/2002
- Éditeur
- IEEE
- Type
- proceedings-article
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Les institutions déclarées
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