Quality control of mass-produced GEM detectors for the CMS GE1/1 muon upgrade

M. Abbas, M. Abbrescia, H. Abdalla, A. A. Abdelalim, S. Abu Zeid, A. Agapitos, Ashfaq Ahmad, A. Ahmed, C. Aimè, C. Aruta, Ikram Asghar, P. Aspell, C. Ávila, J. Babbar, Y. Ban, R. Band, S. Bansal, L. Benussi, Taha Beyrouthy, V. Bhatnagar, M. Bianco, S. Bianco, K. Black, L. Borgonovi, O. Bouhali, A. Braghieri, S. Braibant, S. Butalla, S. Calzaferri, M. Caponero, J. Carlson, F. Cassese, N. Cavallo, S. Chauhan, S. Colafranceschi, A. Colaleo, J. Collins, A. Conde Garcia, M. Dalchenko, A. De Iorio, G. De Lentdecker, D. Dell Olio, G. De Robertis, W. G. D. Dharmaratna, S. Dildick, B. Dorney, R. Erbacher, F. Fabozzi, F. Fallavollita, A. Ferraro, D. Fiorina, E. Fontanesi, M. Franco, C. Galloni, P. Giacomelli, S. Gigli, J. Gilmore, M. Gola, Marek Gruchala, A. Gutiérrez, T. Hakkarainen, J. Hauser, K. Höepfner, M. Hohlmann, H. R. Hoorani, Tao Huang, P. Iaydjiev, A. Irshad, F. Ivone, W. Jang, J. Jaramillo, A. Juodagalvis, E. Juska, B. Kailasapathy, T. Kamon, Y. Kang, P. E. Karchin, A. Kaur, H. Kaur, Henning Keller, H. Kim, J. Kim, S. Kim, Byeonghak Ko, A. Kumar, S. Kumar, N. Lacalamita, J. S. H. Lee, A. Levin, Q. Li, F. Licciulli, L. Lista, Kalpanie Liyanage, F. Loddo, M. Luhach, M. Maggi, Y. Maghrbi, Nayana Majumdar, Kithsiri Malagalage, Shivali Malhotra, S. Martiradonna, C. McLean, Jeremie Alexandre Merlin, M. Misheva, G. Mocellin, L. Moureaux, A. Muhammad, S. Muhammad, Supratik Mukhopadhyay, M. Naimuddin, S. Nuzzo, R. De Oliveira, P. Paolucci, I.C. Park, L. Passamonti, G. Passeggio, A. Peck, A. Pellecchia, Nimantha Perera, L. Pétré, H. Petrow, D. Piccolo, D. Pierluigi, M. Rahmani, F. Ramirez, A. Ranieri, G. Rashevski, B. Regnery, M. Ressegotti, C. Riccardi, M. Rodozov, E. Romano, C. Roskas, B. Rossi, P. K. Rout, J.D. Ruiz, A. Russo, A. Safonov, A.K. Sahota, D. Saltzberg, G. Saviano, Aashaq Shah, A. Sharma, R. Sharma, T. Sheokand, M. Shopova, F. Simonetto, J. B. Singh, D. U. J. Sonnadara, Anna Stamerra, E. Starling, B. Stone, J. Sturdy, G. Sultanov, Z. Szillási, D. Teague, D. Teyssier, T. Tuuva, M. Tytgat, I. Vai, N. Vanegas, R. Venditti, P. Verwilligen, W. Vetens, P. Vitulo, A. Wajid, D. Wang, K. Wang, I. J. Watson, N. Wickramage, D. D. C. Wickramarathna, S. Yang, Unki Yang, Yadan Yang, J. Yongho, I. Yoon, Z. You, I. Yu, S. Zaleski

Rattachement africain : de, it, Égypte, cn, pk, in, ch, co, us, kw. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.