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Accès ouvert déclaré 2022 article

Characterization of the background spectrum in DAMIC at SNOLAB

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16Institutions déclarées
7Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : mx, us, fr, ch, ca, br, es. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

We construct the first comprehensive radioactive background model for a dark matter search with charge-coupled devices (CCDs). We leverage the well-characterized depth and energy resolution of the DAMIC at SNOLAB detector and a detailed geant4-based particle-transport simulation to model both bulk and surface backgrounds from natural radioactivity down to $50\text{ }\text{ }{\mathrm{eV}}_{\mathrm{ee}}$. We fit to the energy and depth distributions of the observed ionization events to differentiate and constrain possible background sources, for example, bulk $^{3}\mathrm{H}$ from silicon cosmogenic activation and surface $^{210}\mathrm{Pb}$ from radon plate-out. We observe the bulk background rate of the DAMIC at SNOLAB CCDs to be as low as $3.1\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}0.6\text{ }\text{ }\mathrm{counts}\text{ }{\mathrm{kg}}^{\ensuremath{-}1}\text{ }{\mathrm{day}}^{\ensuremath{-}1}\text{ }{\mathrm{keV}}_{\mathrm{ee}}^{\ensuremath{-}1}$, making it the most sensitive silicon dark matter detector. Finally, we discuss the properties of a statistically significant excess of events over the background model with energies below $200\text{ }\text{ }{\mathrm{eV}}_{\mathrm{ee}}$.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Characterization of the background spectrum in DAMIC at SNOLAB
Date Crossref
21/03/2022
Éditeur
American Physical Society (APS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Particle Detector Development and PerformanceRadiation Detection and Scintillator TechnologiesCCD and CMOS Imaging Sensors

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