Characterization of the background spectrum in DAMIC at SNOLAB
Rattachement africain : mx, us, fr, ch, ca, br, es. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
We construct the first comprehensive radioactive background model for a dark matter search with charge-coupled devices (CCDs). We leverage the well-characterized depth and energy resolution of the DAMIC at SNOLAB detector and a detailed geant4-based particle-transport simulation to model both bulk and surface backgrounds from natural radioactivity down to $50\text{ }\text{ }{\mathrm{eV}}_{\mathrm{ee}}$. We fit to the energy and depth distributions of the observed ionization events to differentiate and constrain possible background sources, for example, bulk $^{3}\mathrm{H}$ from silicon cosmogenic activation and surface $^{210}\mathrm{Pb}$ from radon plate-out. We observe the bulk background rate of the DAMIC at SNOLAB CCDs to be as low as $3.1\ifmmode\pm\else\textpm\fi{}0.6\text{ }\text{ }\mathrm{counts}\text{ }{\mathrm{kg}}^{\ensuremath{-}1}\text{ }{\mathrm{day}}^{\ensuremath{-}1}\text{ }{\mathrm{keV}}_{\mathrm{ee}}^{\ensuremath{-}1}$, making it the most sensitive silicon dark matter detector. Finally, we discuss the properties of a statistically significant excess of events over the background model with energies below $200\text{ }\text{ }{\mathrm{eV}}_{\mathrm{ee}}$.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Characterization of the background spectrum in DAMIC at SNOLAB
- Date Crossref
- 21/03/2022
- Éditeur
- American Physical Society (APS)
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.