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2018 conference-paper

Cathode Surface Imaging and Electron Beam Emittance Measurement

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Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Emittance is an important figure of merit for electron beams which, coupled with overall current, determines a beam's utility in vacuum electronic devices (VEDs)1. As VEDs push into higher frequency and higher power regimes, low emittance, high current beams become critical2. Much theoretical work on understanding and predicting emittance has been presented, but little to no experimental results are available1,3,4, We report here the measurement of 2D emittance maps for a series of field emission fiber cathodes and their correlation to surface features, imaged using a field emission electron microscope and scanning electron microscope. This work serves to further inform theoretical investigations into emittance and aid in the a priori selection of suitable cathodes for specific uses.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Cathode Surface Imaging and Electron Beam Emittance Measurement
Date Crossref
24/06/2018
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

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Les sujets associés

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