Laser Marking Hatch Contour Generation
Résumé fourni par la source
Laser marking has been widely used in industrial processing. For different hatching methods, the operating efficiency and the clarity of the marking pattern are also different. Herein, we realize the zigzag parallel and contour parallel hatch of the single-layer and multi-layer contour pattern respectively based on different parameters, evaluate the algorithm, and give optimization strategies.
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Contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Laser Marking Hatch Contour Generation
- Date Crossref
- 18/06/2021
- Éditeur
- ACM
- Type
- proceedings-article
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