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2020 conference-paper

Characterization of a Josephson Junction Comb Generator

4Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

We present a new type of microwave frequency combs with a potentially calculable pulse shape. The device is an array of 1500 Josephson junctions (JJs) connected in series along a transmission line. The pulse generation is based on the nonlinearity of the JJs. A large-signal network analyzer and a cryogenic probe station are used to characterize the pulses in the frequency domain up to 50 GHz. We compare the measured data to simulations that use the resistively and capacitively shunted JJ model. The amplitude stability of the demonstrated comb generator is better than 0.5 dB per 0.1 dB input drive variation within the operating range. Finally, we observe qualitative agreement between the measured and simulated power spectrum dependence on the input power, and discuss possible improvements to the system model.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Characterization of a Josephson Junction Comb Generator
Date Crossref
01/08/2020
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • University of Colorado Boulder Department of Electrical pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • National Institute of Standards and Technology pays non établi dans la notice
    Organisme public

Department of Electrical — University of Colorado Boulder et National Institute of Standards and Technology.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Photonic and Optical DevicesAdvanced Electrical Measurement TechniquesOptical Network Technologies

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