Physical properties evolution of sprayed Cu2MgSnS4 thin films with growth parameters and vacuum annealing
20Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
4Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : Tunisie. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Physical properties evolution of sprayed Cu2MgSnS4 thin films with growth parameters and vacuum annealing
- Date Crossref
- 01/11/2020
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Tunis UniversityTunis El Manar UniversityCentre de Recherches et des Technologies des EauxCentre National de Recherches en Sciences des Materiaux
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Chalcogenide Semiconductor Thin FilmsQuantum Dots Synthesis And PropertiesCopper-based nanomaterials and applications