2020 article

Efficient detection of transistor stuck-on faults in CMOS circuits using low-overhead single-ended ring oscillators

S. M. Ishraqul Huq, Apratim Roy, Mushfiqul Ahmed, Ayman Uddin Mahin

1Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité

2Institutions déclarées

1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : bd. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref: Efficient detection of transistor stuck-on faults in CMOS circuits using low-overhead single-ended ring oscillators
Date Crossref: 27/07/2020
Éditeur: Springer Science and Business Media LLC
Type: journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Bangladesh University of Engineering and Technology Ahsanullah University of Science and Technology

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Semiconductor materials and devicesIntegrated Circuits and Semiconductor Failure AnalysisVLSI and Analog Circuit Testing

Consulter la publication primaire Ouvrir le DOI