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Accès ouvert déclaré 2020 article

Thickness and Uniformity Characterization of Thin Targets for Intense Ion Beam Experiments

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Rattachement africain : fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

International audience

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Thickness and Uniformity Characterization of Thin Targets for Intense Ion Beam Experiments
Date Crossref
01/01/2020
Éditeur
Jagiellonian University
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Laboratoire de Physique Corpusculaire de Caen pays non établi dans la notice
    Structure de recherche

École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen et Laboratoire de Physique Corpusculaire de Caen.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Ion-surface interactions and analysisElectron and X-Ray Spectroscopy TechniquesMetal and Thin Film Mechanics

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