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Accès ouvert déclaré 2020 article

K-Plex 2-Erasure Codes and Blackburn Partial Latin Squares

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2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

A k-plex of order n is an n × n matrix on n symbols, where every row contains k distinct symbols, every column contains k distinct symbols, and every symbol occurs exactly k times. Yi et al. (2019) introduced 3-plex codes which are 2-erasure codes (2-erasure tolerant array codes) derived from 3-plexes. In this paper, we generalize 3-plex codes to k-plex codes. We introduce the notion of a “strong” k-plex which implies the derived k-plex code is 2-erasure tolerant. Moreover, k-plex codes derived from strong k-plexes have a straightforward algorithm for reconstruction. These general k-plex codes offer greater flexibility when choosing a suitable code for a storage system, enabling the operator to better optimize the unavoidable trade-offs involved. Blackburn asked for the maximum number of entries in an n × n partial Latin square on n symbols in which if distinct cells (i, j) and (i', j') contain the same symbol, then the cells (i', j) and (i, j') are empty. A “strong” k-plex satisfies the Blackburn property (along with two other properties related to erasure coding). We investigate the necessary conditions for the existence of Blackburn k-plexes (and hence necessary conditions for the existence of strong k-plexes). We show that any Blackburn k-plex has order n ≥ [(√2 + 1)k - 2]. We describe how to construct strong k-plexes of order n when k ∈ {2, 3, 4, 5} for all possible orders n, and we give a simple construction of strong k-plexes of order k2for k ≥ 2.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
K-Plex 2-Erasure Codes and Blackburn Partial Latin Squares
Date Crossref
01/06/2020
Éditeur
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

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