An Interferometric Characterization Technique for Extreme Impedance Microwave Devices
Rattachement africain : gb, us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
This paper presents a microwave impedance characterization technique for extreme impedance devices. The method is based on active interferometry and uses a 2-source 4-port vector network analyzer, which allows for a compact and straight-forward implementation. A new calibration algorithm is described that incorporates error terms from two separate three-known-load calibrations. Based on simulated and measured data, the proposed technique shows substantial improvement in obtaining the impedance of two offset-short devices when compared with conventional measurements.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- An Interferometric Characterization Technique for Extreme Impedance Microwave Devices
- Date Crossref
- 01/01/2020
- Éditeur
- IEEE
- Type
- proceedings-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
University of Surrey Advanced Technology Institute pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
National Physical Laboratory pays non établi dans la noticeStructure de recherche
-
University of Glasgow pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
Colorado School of Mines Department of Electrical Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
School of Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Advanced Technology Institute — University of Surrey, National Physical Laboratory et University of Glasgow, avec 2 autres affiliations.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.