Microfabrication of the combined AFM-SECM Sensors utilizing Focused Ion Beam and Isotropic Inductively Coupled Plasma-Reactive Ion Etching
Rattachement africain : at, ch. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le contrôle bibliographique ouvert
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TU Wien pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Kompetenzzentrum für elektrochemische Oberflächentechnologie pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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University of Bern pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Technische Universität Wien pays non établi dans la noticeInstitution
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Institute for Chemistry and Technology of Materials (6380) pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Universität Bern pays non établi dans la noticeInstitution
TU Wien, Kompetenzzentrum für elektrochemische Oberflächentechnologie et University of Bern, avec 3 autres affiliations.
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