Passive Voltage Contrast Applications with Helium Ion Microscopy Imaging
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Résumé fourni par la source
Deying Xia, Shawn McVey, Chuong Huynh, Wilhelm Kuehn, Doug Runt; Passive Voltage Contrast Applications with Helium Ion Microscopy Imaging, Microscopy and Microa
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Contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Passive Voltage Contrast Applications with Helium Ion Microscopy Imaging
- Date Crossref
- 01/08/2019
- Éditeur
- Oxford University Press (OUP)
- Type
- journal-article
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Institutions déclarées
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Sujets associés
Integrated Circuits and Semiconductor Failure AnalysisElectrical and Bioimpedance TomographyElectron and X-Ray Spectroscopy Techniques