Aller au contenu principal
Accès ouvert déclaré 2019 article

Quantized Pulse Propagation in Josephson Junction Arrays

15Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

We present time-domain electrical measurements and simulations of the quantized voltage pulses that are generated from series-connected Josephson junction (JJ) arrays. The transmission delay of the JJ array can lead to a broadening of the net output pulse, depending on the direction of the output pulse propagation relative to the input bias pulse. To demonstrate this, we compare time-domain measurements of output pulses from radio-frequency Josephson Arbitrary Waveform Synthesizer (RF-JAWS) circuits fabricated with two different output measurement configurations, so that the backward-propagating and forward-propagating pulses can be measured. Measurements were made on arrays with 1200 and 3600 JJs and show that the net backward-propagating output pulse is broadened by timing delays in the JJ array while the net forward-propagating output pulse is insensitive to delay effects and can theoretically be further scaled to longer JJ array lengths without significant output pulse broadening. These measurements match well with simulations and confirm the expectation that the net output pulses arise from the time-delayed superposition of individual JJ output pulses from the series array of JJs. The measurements and analysis shown here have important implications for the realization of RF-JAWS circuits to be used as quantum-based reference sources for communications metrology.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Quantized Pulse Propagation in Josephson Junction Arrays
Date Crossref
01/04/2020
Éditeur
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • National Institute of Standards and Technology pays non établi dans la notice
    Organisme public

National Institute of Standards and Technology.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced Electrical Measurement TechniquesAnalog and Mixed-Signal Circuit DesignAdvancements in PLL and VCO Technologies

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.