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2019 article

Area-Selective Atomic Layer Deposition of Crystalline BaTiO3

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Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Patterned, crystalline BaTiO 3 (BTO) films were formed directly on STO(001) surfaces using atomic layer deposition and restricting Ba and Ti precursor adsorption to STO(001) by passivating regions of the substrate with a polystyrene blocking layer. Patterns were prepared by spin-coating polystyrene onto STO(001), UV-crosslinking the polystyrene, and rinsing away uncrosslinked polystyrene with toluene. Amorphous 9–12 nm thick BTO films were deposited at 225 °C on polystyrene-patterned STO(001) surfaces. These films were crystallized upon annealing at elevated temperatures. Atomic force microscopy, scanning electron microscopy, and time of flight secondary ion mass spectroscopy were used after growth of BTO and removal of polystyrene resist and reveal BTO features with dimensions similar to the shadow mask. Reflection high-energy electron diffraction and X-ray diffraction show that BTO epitaxially crystallizes to the substrate, forming BTO(001), after annealing under vacuum at ≥770 °C with an oxygen partial pressure of 1 × 10 –6 Torr.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé, mais le titre doit être comparé manuellement.

Titre Crossref
Area-Selective Atomic Layer Deposition of Crystalline BaTiO<sub>3</sub>
Date Crossref
11/07/2019
Éditeur
American Chemical Society (ACS)
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

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