Accès ouvert déclaré 2019 conference-paper

Mo-overcoated grating-based beam intensity monitor for 13.9 nm x-ray laser

Takashi Imazono, Hiroaki Nishihara, Ryuichi Ukita, Hiroyuki Sasai, Tetsuya Nagano

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité

2Institutions déclarées

1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

For the purpose of developing a high-efficiency beam intensity monitor with a diffraction grating for a 13.9 nm Ni-like Ag X-ray laser (XRL), a molybdenum thin film was overcoated on a gold-coated holographic grating. The performance was examined by measurements of absolute diffraction efficiencies with synchrotron radiation, and the improvement effect by Mo-overcoating was confirmed. In addition, it became clear that a high correlation was obtained between the intensities of the zeroth and first order diffracted lights of the Mo grating measured with the XRL. To validate the practicality of this beam intensity monitor, the polarization state of the XRL beam of the zeroth order diffracted light delivered from the Mo grating was determined quantitatively by using rotating-analyzer ellipsometry with a Mo/Si multilayer polarizer.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref: Mo-overcoated grating-based beam intensity monitor for 13.9 nm x-ray laser
Date Crossref: 01/01/2019
Éditeur: Author(s)
Type: proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

National Institutes for Quantum Science and Technology pays non établi dans la notice
Structure de recherche
Shimadzu (Japan) pays non établi dans la notice
Entreprise
National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST) pays non établi dans la notice
Structure de recherche
Shimadzu Corp. pays non établi dans la notice
Institution

National Institutes for Quantum Science and Technology, Shimadzu (Japan) et National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), avec 1 autre affiliation.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Advanced X-ray Imaging TechniquesAdvanced Measurement and Metrology TechniquesAdvanced Surface Polishing Techniques

Lire en accès ouvert Consulter la publication primaire Ouvrir le DOI