2018 article

Automotive Reliable Memories Integrated into an Ultra-Low Power 40 nm CMOS Logic Process

Sayeed A. Badrudduza, G. C. Abeln, Thomas Jew, Piotr Grudowski, Apratim Roy, C. Cavins

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Titre Crossref: Automotive Reliable Memories Integrated into an Ultra-Low Power 40 nm CMOS Logic Process
Date Crossref: 01/09/2018
Éditeur: American Scientific Publishers
Type: journal-article

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