Quantitative Scanning Laue Diffraction Microscopy: Application to the Study of 3D Printed Nickel-Based Superalloys
Rattachement africain : cn, us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Progress in computing speed and algorithm efficiency together with advances in area detector and X-ray optics technologies have transformed the technique of synchrotron radiation-based scanning Laue X-ray microdiffraction. It has now evolved into a near real-time quantitative imaging tool for material structure and deformation at the micrometer and nanometer scales. We will review the achievements of this technique at the Advanced Light Source (Berkeley, CA, USA), and demonstrate its application in the thorough microstructural investigations of laser-assisted 3D printed nickel-based superalloys.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Quantitative Scanning Laue Diffraction Microscopy: Application to the Study of 3D Printed Nickel-Based Superalloys
- Date Crossref
- 05/06/2018
- Éditeur
- MDPI AG
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Xi'an Jiaotong University State Key Laboratory for Mechanical Behavior of Materials pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Lawrence Berkeley National Laboratory Advanced Light Source pays non établi dans la noticeStructure de recherche
State Key Laboratory for Mechanical Behavior of Materials — Xi'an Jiaotong University et Advanced Light Source — Lawrence Berkeley National Laboratory.
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