Opto-valleytronic imaging of atomically thin semiconductors
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Opto-valleytronic imaging of atomically thin semiconductors
- Date Crossref
- 16/01/2017
- Éditeur
- Springer Science and Business Media LLC
- Type
- journal-article
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Où se fait cette recherche
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Center for NanoScience pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Munich Center for Quantum Science and Technology pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Ludwig-Maximilians-Universität München pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Rice University Department of Materials Science and NanoEngineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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Los Alamos National Laboratory Materials Physics and Applications Division pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Los Alamos National Security (United States) pays non établi dans la noticeEntreprise
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Fakultät für Physik pays non établi dans la noticeInstitution
Center for NanoScience, Munich Center for Quantum Science and Technology et Ludwig-Maximilians-Universität München, avec 4 autres affiliations.
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