1992 article

Proceedings IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, 1992, Urbana, IL, USA

Daniel Eggert, Jack Bowyer, Charles R. Dyer, Henrik I. Christensen, D. Goldgof

0Citations signalées — pas une note de qualité

0Institutions déclarées

0Pays d’affiliation déclarés

Résumé indisponible : les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits depuis son seul titre.

Contrôle bibliographique ouvert

Aucun DOI disponible pour le contrôle Crossref.

Sujets associés

Industrial Vision Systems and Defect Detection

Consulter la publication primaire

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Recherche à la demande dans Crossref et Europe PMC, sans clé ; OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant requis, aucune réponse conservée. Sources et limites.