Al-doped ZnO amorphous films as conductive layers in ultra-low absorptive optical coatings
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4Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : us, ru. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Amorphous Al-doped ZnO films useable for charge control on interference mirrors in precision interferometry are described. Absorption of several ppm and Rsh in the GΩ/sq range were obtained in ≤ 500 nm thick films.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Al-doped ZnO amorphous films as conductive layers in ultra-low absorptive optical coatings
- Date Crossref
- 01/01/2016
- Éditeur
- OSA
- Type
- proceedings-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Stanford UniversityLomonosov Moscow State UniversityHobart and William Smith CollegesBD Technologie (United States)
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
Advanced Measurement and Metrology TechniquesAdvanced Fiber Optic SensorsOptical Polarization and Ellipsometry