Study of the optical properties and structure of ZnSe/ZnO thin films grown by MOCVD with varying thicknesses
17Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
6Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés
Rattachement africain : Tunisie, fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Study of the optical properties and structure of ZnSe/ZnO thin films grown by MOCVD with varying thicknesses
- Date Crossref
- 01/05/2016
- Éditeur
- Elsevier BV
- Type
- journal-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Les institutions déclarées
Tunis UniversityTunis El Manar UniversityCentre National de la Recherche ScientifiqueUniversité Paris-SaclayGroupe d’Étude de la Matière CondenséeResearch and Technology Center of Energy
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.
Les sujets associés
ZnO doping and propertiesChalcogenide Semiconductor Thin FilmsQuantum Dots Synthesis And Properties