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2015 conference-paper

Neutron, 64 MeV Proton, Thermal Neutron and Alpha Single-Event Upset Characterization of Xilinx 20nm UltraScale Kintex FPGA

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1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The single-event response of Xilinx 20nm UltraScale Kintex FPGA is characterized using neutron, 64 MeV proton, thermal neutron and alpha foil irradiation sources. Single-event upset and multi-bits upset results are presented.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Neutron, 64 MeV Proton, Thermal Neutron and Alpha Single-Event Upset Characterization of Xilinx 20nm UltraScale Kintex FPGA
Date Crossref
01/07/2015
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Radiation Effects in ElectronicsVLSI and Analog Circuit TestingIntegrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis

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