2004 conference-paper

Using embedded objects for yield monitoring

Guadalupe X. Bazán, F. Gravel, Leendert M. Huisman, A. Pardee, Leah Pastel, Kerry M. Rowe

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1Institutions déclarées

1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

In this article, we describe the use of embedded objects, such as scan chains and RAMs, for yield learning and as defect monitors. We discuss why these objects are suitable for yield learning, and what needs to be done to use them as such. We close with a number of examples, showing the use of embedded chains to improve yield.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref: Using embedded objects for yield monitoring
Date Crossref: 07/09/2004
Éditeur: IEEE
Type: proceedings-article

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Où se fait cette recherche

IBM (United States) pays non établi dans la notice
Entreprise
IBM Microelectronics pays non établi dans la notice
Institution

IBM (United States) et IBM Microelectronics.

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Les sujets associés

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