2011 conference-paper

Analysis of distribution of critical current of bent-damaged Bi2223 composite tape

Shojiro Ochiai, Hiroshi Okuda, M. Sugano, Masaki HOJO, Kōzō Osamura, Takami Kuroda, Hiroaki Kumakura, Hitoshi Kitaguchi, K. Itoh, Hiroshi Wada

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Le résumé fourni par la source

Distributions of critical current of damaged Bi2223 tape specimens bent by 0.6, 0.8 and 1.0% were investigated analytically with a modelling approach based on the correlation of damage evolution to distribution of critical current. It was revealed that the distribution of critical current is described by three parameter Weibull distribution function through the distribution of the tensile damage strain of Bi2223 filaments that determines the damage front in bent-composite tape. Also it was shown that the measured distribution of critical current values can be reproduced successfully by a Monte Carlo simulation using the distributions of tensile damage strain of filaments and original critical current.

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Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref: Analysis of distribution of critical current of bent-damaged Bi2223 composite tape
Date Crossref: 22/07/2011
Éditeur: IOP Publishing
Type: journal-article

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Où se fait cette recherche

Kyoto University pays non établi dans la notice
Université ou école supérieure
Research Institute for Applied Sciences pays non établi dans la notice
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National Institute for Materials Science pays non établi dans la notice
Structure de recherche
Graduate School of Engineering pays non établi dans la notice
Université ou école supérieure

Kyoto University, Research Institute for Applied Sciences et National Institute for Materials Science, avec 1 autre affiliation.

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