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2010 paratext

Front Cover (Phys. Status Solidi A 2/2010)

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Rattachement africain : hk. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The ion-beam assisted fabrication of arrays of uniformly distributed cones consisting of metal tips and a single-crystalline Si base, with the crystallographic orientation identical to the Si substrate, is described in the cover article by N.G. Shang and coworkers (pp. 309–315). The axes of the fabricated cones are well aligned with the direction of ion beams (side and top view of the arrays are shown in the top left and top right boxes of the cover picture, respectively). TEM studies show that the tapered pit-interface between the tip and the base (bottom left box) lively visualizes the ion impinging process and supports the left-standing model (bottom right).

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Front Cover (Phys. Status Solidi A 2/2010)
Date Crossref
01/02/2010
Éditeur
Wiley
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Ion-surface interactions and analysisAdvanced Electron Microscopy Techniques and ApplicationsSilicon and Solar Cell Technologies

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