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2004 conference-paper

Tunneling and spatial resolution in near-field optics

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1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : ru. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

A simple model resembling those used in scanning tunneling microscopy is proposed for an optical probe tip. The tip is considered as a pointlike source (detector) displaced from the apex in the direction towards or from the sample. The exact position of this point depends on the shape of electric field lines within the gap and is a crucial factor determining the probe imaging properties. For various probes, both the aperture and apertureless ones, a general expression relating the lateral resolution with the corrugation amplitude, the gap width, and the tip (the aperture) radius is obtained.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
<title>Tunneling and spatial resolution in near-field optics</title>
Date Crossref
15/07/2004
Éditeur
SPIE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Near-Field Optical MicroscopyForce Microscopy Techniques and ApplicationsSurface and Thin Film Phenomena

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