Aller au contenu principal
2014 article

Heteroepitaxial growth of Cu2ZnSnS4 thin film on sapphire substrate by radio frequency magnetron sputtering

18Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
2Institutions déclarées
2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : au, cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

The heteroepitaxy of tetragonal Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin films on hexagonal sapphire (0001) single crystal substrates is successfully obtained by radio frequency magnetron sputtering. The sputtered CZTS film has a mirror-like smooth surface with a root mean square roughness of about 5.44 nm. X-ray θ-2θ scans confirm that CZTS film is (112) oriented on sapphire with an out of plane arrangement of CZTS (112) ‖ sapphire (0001). X-ray Phi scan further illustrates an in plane ordering of CZTS [201¯] ‖ sapphire [21¯1¯0]. The high resolution transmission electron microscopy image of the interface region clearly shows that the CZTS thin film epitaxially grows on the sapphire (0001) substrate. The band gap of the film is found to be approximately 1.51 eV.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Heteroepitaxial growth of Cu2ZnSnS4 thin film on sapphire substrate by radio frequency magnetron sputtering
Date Crossref
03/03/2014
Éditeur
AIP Publishing
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • UNSW Sydney pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Xiamen University Department of Materials Science and Engineering pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • School of Photovoltaic and Renewable Energy Engineering pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • University of New South Wales 2 Mark Wainwright Analytical Center pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

UNSW Sydney, Department of Materials Science and Engineering — Xiamen University et School of Photovoltaic and Renewable Energy Engineering, avec 1 autre affiliation.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Chalcogenide Semiconductor Thin FilmsQuantum Dots Synthesis And PropertiesCopper-based nanomaterials and applications

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.