Accès ouvert déclaré 2010 article

The layer 0 inner silicon detector of the D0 experiment

R. Angstadt, L. Bagby, A. Bean, T. Bolton, D.B. Buchholz, D. Butler, L. Christofek, W. E. Cooper, Colin Daly, M. Demarteau, J. Foglesong, Christoph Gerber, H. Becerril Gonzalez, J. Green, H. Guldenman, K. Hanagaki, K. Herner, J. Howell, M. Hrycyk, M. Johnson, M. H. Kirby, K. Krempetz, W. Kuykendall, F. Lehner, R. Lipton, H. J. Lubatti, D. Markley, M. Matulik, R. McCarthy, A. Nomerotski, Dan Olis, Y. Orlov, G. J. Otero y Garzón, Michael Roman, R. Rucinski, K. I. Schultz, E. Shabalina, R. P. Smith, D. Strom, Russell Taylor, D. Tsybychev, M. Tuttle, M. Utes, J. Wang, M. Weber, T.R. Wesson, S. W. Youn, Tong Zhou, A. Ziemiński

149Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité

10Institutions déclarées

2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us, ch. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

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Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref: The layer 0 inner silicon detector of the D0 experiment
Date Crossref: 01/10/2010
Éditeur: Elsevier BV
Type: journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Fermi National Accelerator Laboratory University of Kansas Kansas State University Northwestern University University of Washington University of Illinois Chicago State University of New York Stony Brook University University of Zurich Indiana University Bloomington

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Particle Detector Development and PerformanceRadiation Effects in ElectronicsRadiation Detection and Scintillator Technologies

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