1998 article

The extended OPAL silicon strip microvertex detector

S. Anderson, J. R. Batley, H. P. Beck, T. Behnke, Marcin Bobiński, A.A. Carter, J.R. Carter, S. J. de Jong, U. C. Dunwoody, V. Gibson, W.D. Glessing, M.J. Goodrick, E. Gross, R. Hammarström, G. Hanson, M. Hapke, A. K. Honma, F.R. Jacob, M. Jiminez, C. R. Jones, P. Jovanović, T. R. Junk, P. Kyberd, J. Lauber, A. J. Martin, A. McNab, R. Mir, K. Mühlemann, T.W. Pritchard, D. R. Rust, R. Van Kooten

71Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité

9Institutions déclarées

6Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us, gb, ch, de, il, ca. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref: The extended OPAL silicon strip microvertex detector
Date Crossref: 01/02/1998
Éditeur: Elsevier BV
Type: journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Indiana University Bloomington Cavendish Hospital Queen Mary University of London European Organization for Nuclear Research University of Freiburg Weizmann Institute of Science University of Victoria Rutherford Appleton Laboratory University of Birmingham

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Particle Detector Development and PerformanceParticle physics theoretical and experimental studiesParticle Accelerators and Free-Electron Lasers

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