2012 article

Ion beam sputtered Ge–Si–O amorphous thin films for microbolometer infrared detectors and their application in earth sensors

M. A. Sumesh, S. P. Karanth, Sharadadevi Prakash, A. S. Laxmiprasad, C. L. Nagendra

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Titre Crossref: Ion beam sputtered Ge–Si–O amorphous thin films for microbolometer infrared detectors and their application in earth sensors
Date Crossref: 01/04/2013
Éditeur: Elsevier BV
Type: journal-article

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Les sujets associés

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