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2005 article

Gated x-ray intensifier for large format simultaneous imaging

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1Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

Some applications of gated x-ray imagers, pulsed x-ray spectroscopy, for example, benefit if image capture is simultaneous and gain is uniform over the frame. Simultaneity and uniformity are both improved when the voltage gate pulse propagation distance is as short as practical across the micro-channel-plate. This article describes a micro-channel-plate intensifier that captures a 40×100mm2 image in <300ps. A simple transmission line loss model is proposed to explain voltage loss across the micro-channel-plate. The voltage loss exponent was measured to be 0.05∕cm±20%, and used to predict spatial and temporal gain dependence. The spatial and temporal gain profile was measured in detail by capturing images of ∼1ps x-ray bursts created with a short pulse laser. The measured profile is consistent with that predicted using the loss model.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Gated x-ray intensifier for large format simultaneous imaging
Date Crossref
01/10/2005
Éditeur
AIP Publishing
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Laser-Matter Interactions and ApplicationsAdvanced X-ray Imaging TechniquesAdvanced Optical Sensing Technologies

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