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2004 article

Spatial resolution of near-field optical devices

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1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : ru. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

A unified approach to the problem of the spatial resolution of near-field optical and tunneling microscopes is proposed. The recording of an optical signal is regarded as plotting the intensity distribution of the electromagnetic field along the trajectory of a virtual infinitely sharp point. Its distance from the sample surface depends on the shape of the field lines and is the main factor that limits the resolution of the device. Estimates are made of the limiting resolution when various types of optical probes are used. © 2004 Optical Society of America

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Spatial resolution of near-field optical devices
Date Crossref
01/06/2004
Éditeur
The Optical Society
Type
journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

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Les sujets associés

Near-Field Optical MicroscopyForce Microscopy Techniques and ApplicationsSemiconductor Quantum Structures and Devices

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