2003 article

Ageing tests on the low-resistivity RPC for the ALICE dimuon arm

R. Arnaldi, A. Baldit, V. Barret, N. Bastid, G. Blanchard, E. Chiavassa, P. Cortese, Ph. Crochet, G. Dellacasa, N. De Marco, C. Drancourt, P. Dupieux, B. Espagnon, A. Ferretti, B. Forestier, M. Gallio, A. Genoux-Lubain, C. Insa, François Jouve, Laurent Lamoine, F. Lefèvre, F. Manso, P. Mereu, Didier Musso, C. Oppedisano, A. Piccotti, Francesca Poggio, L. Royer, Ph. Rosnet, P. Saturnini, Enrico Scalas, F. Sigaudo, G. Travaglia, E. Vercellin

23Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité

8Institutions déclarées

2Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : it, fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Résumé indisponible. Les résultats de l’étude ne doivent pas être déduits de son seul titre.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref: Ageing tests on the low-resistivity RPC for the ALICE dimuon arm
Date Crossref: 01/08/2003
Éditeur: Elsevier BV
Type: journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Les institutions déclarées

Istituto Nazionale di Fisica Nucleare, Sezione di Torino Centre National de la Recherche Scientifique Université Clermont Auvergne Università degli Studi del Piemonte Orientale “Amedeo Avogadro”Tecnologie Avanzate (Italy)Laboratoire de Physique Subatomique et des Technologies Associées Nantes Université University of Messina

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Particle Detector Development and PerformanceSilicon Carbide Semiconductor TechnologiesMuon and positron interactions and applications

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