Spectrally resolved complex transmittance measurements of infrared nanostructured devices
Rattachement africain : fr. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Optical sub-wavelength structures allow to code space-varying complex transmittance functions that induce both amplitude and phase variations on a given wavefront at the micrometer scale. This paves the way to the miniaturization of optical devices based on the spatial coding of the complex transmittance. We describe here a dedicated setup in the infrared range (3-14,um) for the spatial and spectral characterization of such components. The setup combines (i) a quadri-wave lateral shearing interferometer, which enables a two dimensional measurement of phase and amplitude, and (ii) a Fourier Transform Infrared Interferometer for spectral resolution. We present both theoretical simulations and experimental results of the characterization of subwavelength gratings.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Spectrally resolved complex transmittance measurements of infrared nanostructured devices
- Date Crossref
- 13/09/2012
- Éditeur
- SPIE
- Type
- proceedings-article
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Où se fait cette recherche
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Office National d'Études et de Recherches Aérospatiales pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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ONERA (France) pays non établi dans la noticeInstitution
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LPN pays non établi dans la noticeInstitution
Office National d'Études et de Recherches Aérospatiales, ONERA (France) et LPN.
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