Improve the quality of Faster Than At-Speed Testing using the statistics information
Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
Test generation method for the small delay defects not only requires low algorithm complexity, but also need more possibility to detect small delay.The method proposed in this paper uses statistical information to provide guidance for the back stage in test generation, which can improve test quality effectively.This method firstly uses simulation to obtain the statistical probability of nodes in the circuit, and then uses statistical information and controllability of nodes in circuit to determine the unknown conditions in advance in back stage, thereby reducing the number of backtrack and improving fault coverage.The result of testing on ISCAS'89 benchmark circuits shows that the test generation based on probability statistics method can make the transition delay fault coverage increase about 1.3% and time save about 9%.
Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.
Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Improve the quality of Faster Than At-Speed Testing using the statistics information
- Date Crossref
- 01/01/2014
- Éditeur
- Atlantis Press
- Type
- proceedings-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
-
Hunan University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
-
The College of Information Science and Engineering pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
Hunan University et The College of Information Science and Engineering.
Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.