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2004 conference-paper

Roving testing using new built-in-self-tester designs for FPGAs

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2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : us. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

We propose a roving tester (ROTE) that tests the PLBs of the FPGA by periodically moving across it. At any time, the ROTE occupies a certain area of the FPGA, say two columns, and tests all PLBs in that area using parallel built-in self-tester (BISTers). A significant contribution of this work are designs for 1- and 2-diagnosable BISTers. To the best of our knowledge, this is the first time that BISTer designs with provable diagnosabilities have been developed for FPGAs. We also develop functionality-specific testing methods that test PLBs in only two circuit functions that will be mapped to them (as opposed to testing PLBs in all their operational modes), for any reconfigurable fault pattern as the ROTE moves across the FPGA. The combination of our 1- or 2-diagnosable BISTer design and our functionality-specific testing technique leads to more accurate and faster test-and-diagnosis of FPGAs than achieved by previous work.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Roving testing using new built-in-self-tester designs for FPGAs
Date Crossref
22/02/2004
Éditeur
ACM
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Xilinx (United States) pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • University of Illinois Chicago pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Xilinx Inc pays non établi dans la notice
    Entreprise
  • University of Illinois at Chicago pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

Xilinx (United States), University of Illinois Chicago et Xilinx Inc, avec 1 autre affiliation.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

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