2013 article

Real-Time Beam Profile Uniformity Monitoring System

I. Britvitch, W. Hajdas, S. Scherrer, Ken Egli, A. Mozzanica, Bernd Schmitt

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Le résumé fourni par la source

New, multi-pixel, air-filled ionization chamber for beam monitoring was constructed. For processing of 400 input signals, it utilizes a dedicated, homemade ASIC. Device parameters: sensitivity, resolution, dynamic range, etc. are discussed together with results from the particle beam tests.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref: Real-Time Beam Profile Uniformity Monitoring System
Date Crossref: 01/10/2013
Éditeur: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Type: journal-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

Paul Scherrer Institute pays non établi dans la notice
Structure de recherche
Paul-Scherrer-Inst. pays non établi dans la notice
Institution

Paul Scherrer Institute et Paul-Scherrer-Inst..

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Les sujets associés

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