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2015 conference-paper

Vial bottle mouth defect detection based on machine vision

16Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
2Institutions déclarées
1Pays d’affiliation déclarés

Rattachement africain : cn. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.

Le résumé fourni par la source

In order to achieve vial bottle mouth defect detection, this paper proposes a vial bottle mouth defect detection scheme based on machine vision. The scheme is mainly using machine vision software HALCON to study. Firstly, the noise in the bottle mouth image is removed by filtering. Secondly, separating target and background by threshold segmentation. Then, extracting the edges through the edge detection, and finally to the bottle mouth defect identification. Test results show that this method is rapid and efficient for vial bottle mouth defect detection, which has the advantages of high precision and stability.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.

Titre Crossref
Vial bottle mouth defect detection based on machine vision
Date Crossref
01/08/2015
Éditeur
IEEE
Type
proceedings-article

Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.

Où se fait cette recherche

  • Ningbo University of Technology pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Taiyuan University of Science and Technology pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure
  • Zhejiang University Ningbo Institute of Technology pays non établi dans la notice
    Université ou école supérieure

Ningbo University of Technology, Taiyuan University of Science and Technology et Ningbo Institute of Technology — Zhejiang University.

Une affiliation ne permet pas de déduire la nationalité d’un auteur.

Les sujets associés

Industrial Vision Systems and Defect DetectionAdvanced Computing and Algorithms

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