Aller au contenu principal
2008 article

β-Ga2O3 单晶NH3中氮化的研究

0Citations signalées, ce qui n’est pas une note de qualité
0Institutions déclarées
0Pays d’affiliation déclarés

Le résumé fourni par la source

Nitridated b-Ga 2 O 3 (100) substrate was investigated as the substrate for GaN epitaxial growth. The effects of nitridation temperature and surface roughness of b-Ga 2 O 3 wafers on the formation of GaN were studied. It was found that the most optimized nitridation temperature was 900dC, and hexagonal GaN with preferred orientation was produced on the well-polished wafer. The nitridation mechanism was also discussed.

Ce résumé expose les affirmations des auteurs. BNTIC ne l’interprète pas comme une validation indépendante des résultats.

Le contrôle bibliographique ouvert

Aucun DOI disponible pour le contrôle Crossref.

Les sujets associés

Ga2O3 and related materialsGaN-based semiconductor devices and materialsSemiconductor materials and devices

BNTIC News n’est pas le producteur de ces données. Les publications sont interrogées à la demande dans Crossref, OpenAIRE, DOAJ, Europe PMC, HAL, DataCite, AfricArXiv, ROR et la Banque mondiale, sans clé d’accès. OpenAlex reste optionnel. Aucun service payant n’est nécessaire et aucune donnée externe n’est enregistrée en base. Consulter les sources et leurs limites.