Accelerated life test of an ONO stacked insulator film for a silicon micro-strip detector
Rattachement africain : jp. Niveau de preuve : code pays fourni par la source.
Le résumé fourni par la source
We have used to acquire the signal through an integrated capacitor for a silicon micro-strip detector. When we have been using a double-sided silicon micro-strip detector, we have required a long-term stability and a high feasibility for the integrated capacitor. An oxide-nitride-oxide (ONO) insulator film was theoretically expected to have a superior nature in terms of long term reliability. In order to test long term reliability for integrated capacitor of a silicon micro-strip detector, we made a multi-channel measuring system for capacitors.
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Le contrôle bibliographique ouvert
DOI retrouvé dans Crossref DOI retrouvé ; titre concordant.
- Titre Crossref
- Accelerated life test of an ONO stacked insulator film for a silicon micro-strip detector
- Date Crossref
- 24/12/2002
- Éditeur
- IEEE
- Type
- proceedings-article
Ce recoupement confirme des métadonnées liées au DOI. Il ne confirme ni la méthode ni les conclusions de l’étude, et il ne compte pas comme une seconde source scientifique indépendante.
Où se fait cette recherche
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Kanagawa University pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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High Energy Accelerator Research Organization pays non établi dans la noticeStructure de recherche
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Seiko Holdings (Japan) pays non établi dans la noticeEntreprise
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Seiko Instruments Inc. (Japan) Seiko Instruments pays non établi dans la noticeEntreprise
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Faculty of Engineering Department of Industrial Engineering and Management pays non établi dans la noticeUniversité ou école supérieure
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National Laboratory for High Energy Physics (KEK) pays non établi dans la noticeStructure de recherche
Kanagawa University, High Energy Accelerator Research Organization et Seiko Holdings (Japan), avec 3 autres affiliations.
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