Axis-Constrained Fine Registration for Industrial Inspection Using a Closed-Form Quaternion Solver
Daniel Mejia-Parra, Andres F. Puentes-Atencio, Jairo R. Sánchez, Oscar Ruiz-Salguero
Donostia / San Sebastian · ES · facility
Daniel Mejia-Parra, Andres F. Puentes-Atencio, Jairo R. Sánchez, Oscar Ruiz-Salguero
Juncal Uriol, Emma O'Brien, Iker Hernández, Roberto Viola et autres
Juan Camilo Vásquez-Correa, Eneko Tomé, Haritz Arzelus, Ana Díaz de Zugazúa et autres
Juan Camilo Vásquez-Correa, Haritz Arzelus, Aitor Álvarez
Jon Kerexeta, Yone Tellechea, Cristina Martin
Lander Segurola-Gil, Itziar Irigoien, Raúl Orduna-Urrutia, Ane M. Florez-Tapia et autres
Arantzazu Flórez, Goretti Echegaray, Ane M. Florez-Tapia, Arkaitz Artetxe et autres
S. A. Moreno-Acevedo, Juan Rafael Orozco‐Arroyave
Maria Arrese-Zubizarreta, Naiara Rodríguez-Flórez, Raphaël Sivera, Liam Swanson et autres
Andrés Santos-Torres, Ying Yang, Telmo Zarraonandia, Paloma Díaz
Íñigo Elguea-Aguinaco, Ewen Giraud-Carrier, Jorge Rodríguez-Guerra, Aitor Aguirre-Ortuzar et autres
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